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47L04-E/SN

Name: Microchip 47L04-E/SN
Brand: Microchip Technology
SKU: 579-47L04-E/SN
Price: 0.66 CHF
Availability: OutOfStock

Bilder dienen lediglich der Veranschaulichung und sind nicht Originalgetreu
Siehe Produktspezifikationen

Mouser-Nr.:

579-47L04-E/SN

Herst.- Nr.:

47L04-E/SN

Herst.:

Microchip Technology

Beschreibung:

SRAM 4k, 3.0V EERAM EXT

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Datenblatt:

47L04-E/SN Datenblatt (PDF)

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Produktattribut	Attributwert	Attribut auswählen
Hersteller:	Microchip
Produktkategorie:	SRAM
RoHS:
Speichergröße:	4 kbit
Organisation:	512 k x 8
Zugangszeit:	400 ns
Maximale Taktfrequenz:	1 MHz
Schnittstellen-Typ:	I2C
Versorgungsspannung - Max.:	3.6 V
Versorgungsspannung - Min.:	2.7 V
Versorgungsstrom - Max.:	400 uA
Minimale Betriebstemperatur:	- 40 C
Maximale Betriebstemperatur:	+ 125 C
Montageart:	SMD/SMT
Verpackung:	Tube
Marke:	Microchip Technology
Land der Bestückung:	Not Available
Land der Verbreitung:	Not Available
Ursprungsland:	TH
Feuchtigkeitsempfindlich:	Yes
Produkt-Typ:	SRAM
Serie:	47L04
Verpackung ab Werk:	100
Unterkategorie:	Memory & Data Storage

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CNHTS:: 8542329000
CAHTS:: 8542320040
USHTS:: 8542320051
JPHTS:: 854232039
TARIC:: 8542324500
MXHTS:: 8542320299
ECCN:: EAR99

4K/16K I2C serielle EERAMs

Die 4K/16K seriellen EERAMs mit I2C von Microchip verfügen über 4/16 KBit SRAM mit EEPROM-Backup. Die 4K/16K EERAMs sind als 512 x 8-Bit- oder 2048 x 8-Bit-Speicher organisiert, unter Verwendung der seriellen I2C-Schnittstelle. Die EEPROM-Zellen bieten eine hochleistungsfähige, nichtflüchtige Speicherung von Daten, während das Gerät unbegrenzte Lese- und Schreibzyklen zum SRAM ermöglicht. Bei einem Stromausfall werden mit einem externen Kondensator die SRAM-Daten automatisch an das EEPROM übertragen. Entweder mit dem Hardwarespeicher-Pin oder der Software-Steuerung können die Daten manuell übertragen werden. Die EEPROM-Daten werden beim Einschalten oder mit der Software-Steuerung automatisch zum SRAM zurückgerufen. Die 4K/16K seriellen EERAMs mit I2C sind in 8-poligen SOIC-, PDIP- und TSSOP-Gehäusen erhältlich.
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